#1 7. April 2009 In Laptops, Handys und im Automobil wird die Elektronik immer kleiner und leistungsfähiger. Doch damit steigt auch ihre Störanfälligkeit, da sich die einzelnen Bauteile in ihrer Arbeit beeinträchtigen. Die Folge: Gesamte Geräte und Fahrzeuge geben mitunter den Geist auf. Ein Nahfeldscanner der Fraunhofer-Einrichtung für Elektronische Nanosysteme (ENAS) soll solche Problemfelder aufspüren und ausschalten. Das Problem liegt in der Winzigkeit der Technik: Je kleiner die Baukomponenten in den elektronischen Schaltungen werden, desto schneller können sie schalten und umso weniger Energie brauchen sie für jeden Schaltvorgang. Allerdings sinken mit dem Energiebedarf auch die Störabstände. Statt einer Spannung von mehreren Volt reichen schon ein paar hundert Millivolt aus, um die Transistoren von Computer-Prozessoren zu zerstören. Transistoren leiten und verstärken elektrische Signale ohne mechanische Bewegungen. Im Betrieb strahlen viele Bauteile jedoch elektromagnetische Strahlen aus. Was bei den einen für eine einwandfreie Funktion notwendig ist, kann andere Komponenten jedoch schädigen, da hohe Spannungsraten erreicht werden. Die Hersteller müssen deshalb nun zunehmend auf die elektromagnetische Verträglichkeit einzelner Bauteile untereinander achten, damit sich die Vorteile und Funktionen nicht gegenseitig aufheben. Hilfreich kann da nun der Nahfeldscanner sein, den die ENAS zusammen mit dem Autozulieferer Continental und dem Technologieunternehmen Infineon Technologies entwickelt hat. Das Messsystem spürt selbst schwach elektrische und magnetische Felder auf hunderstel Millimeter genau auf, so dass einzelne Störfelder identifiziert werden können. Auch die Wechselwirkungen von Bauteilen untereinander werden erkannt - und das sowohl im einzelnen Chip und Prozessor als im kompletten Laptop, Mobiltelefon oder Steuergerät für Kraftfahrzeuge. Mit dem Scanner könnten zudem Bankkarten sicherer gemacht werden, da Gefahrenquellen eliminiert werden, mit denen Kriminelle beispielsweise an die PIN-Nummer kommen. Quelle: yahoo.de + Multi-Zitat Zitieren